Le nanoparticelle sono ampiamente utilizzate in vari campi come la somministrazione di farmaci, l'imaging e la scienza dei materiali. I rivestimenti sulla superficie delle nanoparticelle possono influenzarne le proprietà e le prestazioni. Pertanto, è essenziale misurare lo spessore dei rivestimenti per comprenderne gli effetti sulle nanoparticelle. In questo post del blog introdurremo diversi metodi per misurare lo spessore dei rivestimenti sulle nanoparticelle.
1. Microscopia elettronica a trasmissione (TEM)
TEM è una potente tecnica di imaging in grado di fornire immagini ad alta risoluzione di nanoparticelle. Può anche essere utilizzato per misurare lo spessore dei rivestimenti sulle nanoparticelle. Il TEM funziona facendo passare un fascio di elettroni attraverso il campione e l'interazione tra gli elettroni e il campione può essere utilizzata per creare un'immagine. Utilizzando TEM, il contrasto tra rivestimenti e nanoparticelle può essere utilizzato per misurare lo spessore dei rivestimenti.
2. Microscopia a forza atomica (AFM)
L'AFM è un'altra tecnica di imaging che può essere utilizzata per misurare lo spessore dei rivestimenti sulle nanoparticelle. Funziona scansionando la superficie del campione con una minuscola sonda. La sonda può misurare l'altezza del campione con elevata precisione, che può essere utilizzata per calcolare lo spessore dei rivestimenti sulle nanoparticelle. L'AFM può fornire immagini ad alta risoluzione ed è adatta per misurare lo spessore dei rivestimenti su una singola nanoparticella.
3. Spettroscopia ultravioletto-visibile (UV-Vis).
La spettroscopia UV-Vis è una tecnica che può essere utilizzata per misurare simultaneamente lo spessore dei rivestimenti su un gran numero di nanoparticelle. Funziona misurando gli spettri di assorbimento delle nanoparticelle in soluzione. I rivestimenti sulle nanoparticelle possono influenzare gli spettri di assorbimento e lo spessore dei rivestimenti può essere calcolato in base al grado di spostamento spettrale. La spettroscopia UV-Vis è un metodo veloce e semplice per misurare lo spessore dei rivestimenti sulle nanoparticelle.
4. Microbilancia a cristalli di quarzo (QCM)
La QCM è una tecnica altamente sensibile che può essere utilizzata per misurare la massa delle nanoparticelle. Misurando la variazione di massa delle nanoparticelle con e senza rivestimento, è possibile calcolare lo spessore dei rivestimenti. Il QCM può fornire un monitoraggio in tempo reale dello spessore dei rivestimenti ed è adatto per studiare la stabilità e la cinetica dei rivestimenti su nanoparticelle.
In conclusione, esistono diversi metodi per misurare lo spessore dei rivestimenti sulle nanoparticelle, ciascuno con i suoi vantaggi e limiti. La scelta del metodo dipende dai requisiti specifici dell'applicazione. Comprendendo lo spessore dei rivestimenti sulle nanoparticelle, possiamo progettare e ottimizzare le loro proprietà e funzioni per varie applicazioni.
