Gli strumenti di rilevamento comunemente usati per analizzare la composizione dinanomaterialiincludere:
1. ICP (plasma accoppiato induttivamente): L'ICP è una tecnologia ampiamente utilizzata nei campi della chimica analitica e della scienza dei materiali. Può essere utilizzato per determinare il contenuto e la composizione degli elementi nei nanomateriali. Convertendo il campione in ioni gassosi e utilizzando lo spettro del plasma generato per determinare la concentrazione degli elementi. ICP-MS (spettrometro di massa al plasma accoppiato induttivamente) combina tecniche ICP e spettrometria di massa per analizzare concentrazioni estremamente basse di elementi nei nanomateriali.
2. XRF (fluoroscopia a raggi X): XRF è una tecnologia ampiamente utilizzata per l'analisi dei materiali e i controlli non distruttivi. Determina la composizione degli elementi irradiando la superficie o l'interno del campione con raggi X e misurando la radiazione di fluorescenza delle caratteristiche degli elementi nel campione. XRF è adatto per una gamma di nanomateriali, inclusi campioni solidi, liquidi e in polvere.
3. EDS (spettroscopia a raggi X a dispersione di energia): l'EDS è una tecnica di microscopia elettronica che determina la composizione degli elementi in un campione misurando i raggi X generati dall'interazione tra il fascio di elettroni e il campione nel materiale. L'EDS viene spesso utilizzato insieme alla microscopia elettronica a scansione (SEM) per fornire l'analisi della composizione superficiale dei nanomateriali.
