La microscopia elettronica a trasmissione di nanoparticelle (TEM) è un'importante tecnica di microscopia ampiamente utilizzata per osservare e caratterizzare la struttura e la morfologia di particelle e materiali su scala nanometrica.
Il TEM utilizza fasci di elettroni ad alta energia per osservare i dettagli microscopici del campione attraverso fette sottili. Nel TEM, il fascio di elettroni viene focalizzato attraverso un sistema di lenti e quindi passa attraverso il campione, interagendo con gli atomi o le molecole del campione. Raccogliendo informazioni sul fascio di elettroni trasmesso, è possibile ottenere immagini ad alta risoluzione e schemi di diffrazione del campione, rivelandone così la struttura e la composizione interna.
Di seguito sono riportati i passaggi generali per l'utilizzo del TEM per testare i campioni:
1. Preparazione del campione: innanzitutto è necessario preparare il campione da testare in fette sufficientemente sottili. I metodi di preparazione comuni includono l'affettatura meccanica, la macinazione ionica, la deposizione centrifuga e il taglio con fascio ionico focalizzato (FIB).
2. Caricamento del campione: posizionare le fette di campione preparate sul supporto del campione TEM e garantirne il fissaggio e la stabilità.
3. Impostazioni dello strumento: impostare parametri quali tensione di accelerazione, messa a fuoco e funzioni di allineamento richieste per TEM. Di solito, è necessario scegliere le impostazioni e le modalità appropriate dell'obiettivo per ottenere le informazioni sull'immagine richieste.
4. Osservazione e regolazione: inserire il portacampione nello strumento TEM e osservare il campione utilizzando un oculare o un microscopio. Sotto un ingrandimento appropriato, osservare se la morfologia e la struttura del campione soddisfano i requisiti e regolare e ottimizzare secondo necessità.
5. Acquisizione dell'immagine: selezionare le impostazioni dell'obiettivo e il tempo di esposizione appropriati per acquisire immagini ad alta risoluzione del campione attraverso il sistema TEM. È possibile raccogliere immagini da diverse regioni e angolazioni per ottenere informazioni più complete.
6. Analisi dei dati: analizzare e interpretare le immagini TEM, compresa la misurazione delle dimensioni delle particelle, della morfologia superficiale, della struttura cristallina, ecc. È inoltre possibile condurre l'analisi dello spettro energetico corrispondente e l'analisi del modello di diffrazione per ottenere informazioni sulla composizione elementare e sulla struttura cristallina.
TEM è una tecnica di microscopia ad alta risoluzione comunemente utilizzata per studiare nanoparticelle, nanomateriali, nanostrutture e altro ancora. Può fornire osservazioni e analisi dettagliate su scala nanometrica, svolgendo un ruolo importante nella comprensione delle proprietà strutturali dei materiali, della morfologia e della composizione delle nanoparticelle e nello studio dei fenomeni su scala nanometrica.
